JFS-ETSCマイクロデバイス株式会社

JFS

天工開物検査分析センターは半導体先進材料分析、チップデバイス構造分析と故障分析、テストと信頼性分析、クリーンルーム環境と電子化学品分析に焦点を当てている

故障解析

ミクロ分析